收集的正畸头影测量分析系统软件种类

 收集的正畸头影测量分析系统软件种类

  １，SP头影测量软件，所属单位：北京大学口腔医学院

  ２，艾坚头影测量分析系统，上海艾坚软件有限公司开发

  ３，ＦＹＩ头影测量大师

  ４，ＣＡＳＳＯＳ正畸头影测量分析系统

  ５，NemoCeph 口腔头影测量分析系统，是法国 Visiodent 公司研发

  6、WinCeph8.0 网络版头影测量分析系统，日本RISE珠式会社开发

  FYI头影测量大师

  一、头影测量部分：
  （一）X-光片的录入：
  本系统X-光片的录入对所有支持TWAIN的设备都适用，目前主要建议使用36bit, 600×1200，4800dpi，TMA A4幅面以上配置的扫描仪，如：Agafa Duoscan T1200, ScanAce Ⅲ等中档以上的型号。另外本系统还支持CR，DR输入[ 7 ]，这点和口腔影像学未来的数字化发展趋势是相适应的。另外系统还可以直接读入软/硬/光盘上已经存在的BMP/JPG格式的文件。从以上各种方式所获头颅侧位片及面相可依据矫治前、矫治中第一、二、三阶段及矫治后分别储存。

  （二）头影测量的进行：
  在选定测量方法后即可在X光片上直接进行鼠标定点，系统同时配有所需定点的顺序提示。如定点错误则可重新进行。所获测量的点线可由不同颜色来区分，以避免重复，另该颜色可自定义。需要说明的是系统提示定点的数量与操作者所定义的测量方法直接相关。所有定点正确输入后即可查询测量结果并打印输出或以TXT文件存档。

  （三）自定义标志点、测量项目、测量方法及变量值：
  此为本系统的最大优势，本系统预置了134个标志点，使用者可另外自定义100个以上的标志点，但需添加标志点名称，指代，以及说明。本系统原有测量项目110项，足以满足一般头影测量的需要。若使用者需自定义测量项目，可先选择所需的测量项目类型（包括两点线距，两线成角，点线距离等所有二维测量类型），然后再选择具体的点，系统所提供的测量项目增加余地为300项以上。至于测量方法的定义，本系统预设了12种常用的头影测量方法，包括Clark，Downs等著名的分析方法，另外使用者可根据自己的需要定制新的测量方法，只需从已经存在的测量项目中选取需要者就可以了，非常方便。 而对于变量值即标准值，由于我国地域辽阔，各地人口的头颅测量标准值存在着一定的差异，本系统的标准值和标准差均可自行设定，这样就可很容易地使系统“本地化”，适合于各地的需要。

  （四）照片-X光片整合功能及预测功能：
  照片-X光片整合是对矫治前后患者面型改变进行预测的前提。本系统采用定点后整合的方式将头颅侧位片和患者侧面面相整合，而后可实现对内收上下前牙、旋转上下颌平面、颏成形术后软组织面型的改变预测。同时也可以实现下颌生长趋势预测。需要说明的是，此类功能有它的局限性，在使用时需向患者解释清楚。

  （五）图像及分析结果的输出：
  头影测量图像（附带有测量点、线的X光图片及各种预测结果图片）可以BMP或JPG格式存盘，具体格式需使用者自己设定，系统默认为BMP格式，但占用储存空间太大。所或分析结果可直接打印输出或以TXT方式存盘。所有图像和分析结果都可以实现光盘记录，图像BMP格式存盘者每张CD-R约可记录10个患者，JPG格式则可增加到60个左右。

  （六）患者信息储存、查找和调用：
  本系统录入新病例时会自动弹出对话框要求输入患者年龄、姓名、性别、病历号、出生年月、主治医师等项目。同时可选择以以上各项为查询选项对已有病例进行查询。具体调用可双击所需病例或按“确定”键即可。